Fischerscope XAN215鍍層測(cè)厚儀

簡(jiǎn)要描述：

Fischerscope XAN215鍍層測(cè)厚儀，F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY XAN 215是一款頗具性?xún)r(jià)比的入門(mén)級(jí)能量色散型X射線(xiàn)熒光材料分析及鍍層測(cè)厚儀，通常用于對(duì)珠寶、錢(qián)幣和貴金屬等進(jìn)行無(wú)損分析。

更新時(shí)間：2024-02-29

訪問(wèn)量：1194

廠商性質(zhì)：經(jīng)銷(xiāo)商

生產(chǎn)地址：

在線(xiàn)詢(xún)價(jià) 聯(lián)系我們

產(chǎn)品介紹：

品牌	Helmut Fischer/德國(guó)菲希爾	價(jià)格區(qū)間	面議
產(chǎn)地類(lèi)別	進(jìn)口	應(yīng)用領(lǐng)域	環(huán)保,制藥/生物制藥,綜合

Fischerscope XAN215鍍層測(cè)厚儀

它特別適合分析貴金屬及其合金的成分以及測(cè)量鍍層的厚度，從元素氯(17)到鈾(92)，多時(shí)可同時(shí)測(cè)定24種元素。

菲希爾X射線(xiàn)測(cè)厚儀FISCHERSCOPE XAN215正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 儀器一樣，無(wú)錫駿展儀器供應(yīng)本款儀器有著初設(shè)的準(zhǔn)確性以及長(zhǎng)期的穩(wěn)定性，這樣就顯著減少了校準(zhǔn)儀器所需的時(shí)間和精力。

菲希爾X射線(xiàn)測(cè)厚儀FISCHERSCOPE XAN215先進(jìn)的Si-PIN的基本參數(shù)法，無(wú)錫駿展儀器供應(yīng)可以在沒(méi)有校驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測(cè)量樣品的鍍層厚度。

菲希爾X射線(xiàn)測(cè)厚儀FISCHERSCOPE XAN215產(chǎn)品應(yīng)用：

典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：

珠寶、貴金屬和牙科用合金分析

黃金制品和K金制品分析

鉑金制品和銀制品分析

銠制品分析

其他合金分析和鍍層厚度測(cè)量

多鍍層厚度測(cè)量

留言框

產(chǎn)品：
您的單位：
您的姓名：
聯(lián)系電話(huà)：
常用郵箱：
省份：
詳細(xì)地址：
補(bǔ)充說(shuō)明：
驗(yàn)證碼：

請(qǐng)輸入計(jì)算結(jié)果（填寫(xiě)阿拉伯?dāng)?shù)字），如：三加四=7

上一篇：SURTRONIC S116粗糙度儀泰勒
下一篇：圓度儀

Fischerscope XAN215鍍層測(cè)厚儀

留言框

產(chǎn)品：

您的單位：

您的姓名：

聯(lián)系電話(huà)：

常用郵箱：

省份：

詳細(xì)地址：

補(bǔ)充說(shuō)明：

驗(yàn)證碼：