貴金屬鍍層厚度測量

FISCHERSCOPE-X-RAY XDL 是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X 射線熒光光譜儀。它是從大眾認(rèn)可的 FISCHERSCOPE X-RAYXDL-B 型儀器上發(fā)展而來的。與上一代相類似，它尤其適合無損測量鍍層厚度及材料分析，同時還能全自動測量大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板。

比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率，這樣就可以進(jìn)行高精度測量。由于采用了 Fischer 基本參數(shù)法，無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品，都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行分析和測量。可測量的元素范圍從氯 (17)到鈾(92)

XDL型X射線光譜儀有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器

XDL系列儀器特別適用于客戶進(jìn)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控

Fischer X射線測厚儀典型的應(yīng)用領(lǐng)域有:

測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件

測量薄鍍層，例如裝飾鉻

測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層全自動測量，如測量印刷線路板

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貴金屬鍍層厚度測量