菲希爾 X 射線熒光測厚儀XDL210信息

菲希爾 X 射線熒光測厚儀家族的核心型號，XDL210 以無損檢測技術(shù)為核心，專為鍍層厚度精準(zhǔn)測量設(shè)計(jì)，廣泛適配電子制造、精密五金等對精度要求嚴(yán)苛的領(lǐng)域。其采用先進(jìn) X 射線熒光光譜法，搭配自動聚焦功能，在保障樣品完整性的同時(shí)，實(shí)現(xiàn)高精度數(shù)據(jù)采集。

核心技術(shù)上，該儀器搭載測量距離補(bǔ)償法（DCM），可對 80mm 深度的腔體樣品進(jìn)行遠(yuǎn)距離對焦測量，解決復(fù)雜結(jié)構(gòu)件檢測難題。設(shè)備支持 30KV、40KV、50KV 三檔可變高壓調(diào)節(jié)，配合標(biāo)配的 φ0.3mm 圓形準(zhǔn)直器（另有 φ0.1mm、φ0.2mm 及長方形 0.3mm×0.05mm 等規(guī)格可選），能靈活匹配不同材質(zhì)與厚度的測量需求。

憑借德國精工品質(zhì)，XDL210 在微電子鍍層、精密儀器涂層等場景中表現(xiàn)突出，可實(shí)現(xiàn)多層鍍層的同步厚度分析，且數(shù)據(jù)重復(fù)性誤差控制在行業(yè)水平。其一體化設(shè)計(jì)兼顧操作便捷性與結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性，適配實(shí)驗(yàn)室及生產(chǎn)線的多場景應(yīng)用，為質(zhì)量管控提供可靠數(shù)據(jù)支撐。