菲希爾鍍銀層測(cè)厚儀產(chǎn)品信息

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237 x射線熒光鍍層測(cè)厚和材料分析儀：

FISCHERSCOPE X-RAY XDL XDLM系列與XULXUUM系列密切相關(guān):兩者都使用相同的接收器，準(zhǔn)直器和濾片組合。配備了標(biāo)準(zhǔn)X射線管和固定準(zhǔn)直器的XDL儀器非常適合大工件的測(cè)量。XDLM型號(hào)的X射線源采用微聚焦管，可以測(cè)量細(xì)小的部件，對(duì)低輻射組分有較好的激勵(lì)作用。此外，XDLM配備了可自動(dòng)切換的準(zhǔn)直器和多種濾片可以靈活地為不同的測(cè)量應(yīng)用創(chuàng)造良好的激勵(lì)條件。







菲希爾X射線測(cè)厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL210/XDL220/XDL230/XDL240

菲希爾X熒光射線測(cè)厚儀

FISCHERSCOPE X-RAY XDVSDD是Fischer產(chǎn)品組合中性能較好的X射線熒光儀器之?。這臺(tái)XRF光譜儀配備了?分辨率和強(qiáng)?的硅漂移探測(cè)器 (SDD) ，其 涂層--例如，引線框架上約 2nm 厚的?鍍層。